高周波コネクタ用Tulipテストプローブ選定ガイド｜信頼性・寿命・性能比較
半導体および精密コネクタのテストにおいて、テストプローブ（Test Probe） は電気的性能と構造安定性を確保するための重要部品です。特に高周波・高回数の挿抜・微細ピッチの用途では、テストピンの性能がテストシステム全体の信頼性と寿命に直結します。
本記事では、日本のTulipブランドのテストプローブに焦点を当て、コネクタやウェハテストなどの現場での優位性を解説し、具体的な選定の参考情報をご提供いたします。
1. テストプローブにおける一般的な故障事例
スプリング疲労による接触不良
メッキ摩耗による接触抵抗の増加
バネ力の不均衡（過大・過小）によるワーク損傷
スプリングの詰まりやピン先の復帰不良
これらを防ぐには、長寿命・高性能メッキ・構造信頼性に優れた製品選定 が不可欠です。
2. Tulipテストプローブの技術的優位点
Tulipは日本発の高品質プローブメーカーとして、以下の特徴を有します：
高精度スプリング構造、耐久回数10万回以上
ピン径・先端形状・全長のカスタム対応
Ni / Au / Rh など多層メッキ対応
0.3mm以下の微細ピッチにも対応可能
3. Tulip製品と中国製汎用プローブとの性能比較
4. Tulipプローブの主な使用シーン
半導体ウェハテスト用プローブカード
FPCコネクタ験治具
自動車ECU信号テスト
BGA/QFNパッケージのピンテスト
特に微細ピッチや高信頼性が求められるTier1プロジェクトでは、Tulip製品は日系メーカーを中心に広く採用されています。
5. 用途別選定ガイド
サンプル・技術相談のご案内
JCMは日本Tulipブランドの正規代理店として、全製品の取扱いとカスタム対応を行っております。
試作依頼、データシート、図面や型番選定のご相談はお気軽にご連絡ください。
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メール：info@jcmchina.com
Tulipテストプローブ｜コネクタ試験ピン｜高周波ピン｜精密スプリングプローブ
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