JCMは、海外の半導体ウェーハ試験カンファレンスへの参加を心よりお待ちしております。SW Test 2024！
JCM出展情報早見表
JCM Exhibition Information Quick Overview
2024年半導体ウェーハテストシンポジウム
日程：2024年6月3日～6月5日
JCMブース：107
場所: オムニ ラ コスタ リゾート、カールスバッド、カリフォルニア、米国
Semiconductor Wafer Test Conferenceの略であるSW Test 2024カンファレンスは、2024年6月3日から6月5日までカリフォルニア州カールスバッドのオムニ・ラ・コスタ・リゾートで開催されます。
半導体ウェーハ テスト カンファレンス (SWTest) は、マイクロエレクトロニクス ウェーハおよびチップのテスト関連サービスに焦点を当てた、30 年以上の中でまれな業界イベントです。
このカンファレンスにはメーカーとサプライヤーが完全に集まり、参加者は業界の最新の開発について学び、アイデアを交換できます。
プローブ関連のニーズがある場合は、いつでもお問い合わせください。
中国・深セン
深圳市嘉畅美电子有限公司
ADD:深セン市沙井街道後亭地下鉄駅D出口同方創意文化産業園1棟1階102
FAX:+86-755-82522370